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| 氧化诱导测定仪 |  |
氧化诱导期分析仪
型号：HYD
〔基本技术指标〕：
温度范围：室温-1150℃
升温速率：0.1℃/min至80℃/min
温度准确度：±0.1℃
DTA解析度：0.01μv
DSC最小分辨率：0.1μw
〔概述〕
氧化诱导期热稳定实验适用于国标GB/T17391-1998
主要参数：
能连续记录试样温度的差热分析仪（DTA），差示扫描量热仪（DSC）或其他类似的热分析仪器,
温度控制精度0.1度
试验方法：
1、 截取少量样品放入仪器样品架内，接通氧气和氮气。在氮气状态下以20℃/min的速率从室温升温到200℃±0.1℃保持恒温7分钟；
2、200℃恒温7分钟后迅速切换成氧气，并记录曲线明显变化的时间即氧化诱导期时间。
〔其它用途〕
测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性等变化。
主要技术指标
温度数据 差热数据
温度范围 CT室温～1150℃ 测量范围 ±10μv～±2000μv
温度准确度 ±0.1℃ DTA解析度 0.01μv
升温速率 0.1℃/min−80℃/min DTA噪声 < 0.01μv
温度重复性 ±0.1℃ 坩埚容积 0.06ml
特色功能 DSC数据
控温方式 升温，恒温（程序自动控制） 测量范围 ±100mw
显示方式 汉字大屏液晶显示 最小分辨率 ±0.1μw
气氛系统 氮气、氧气自动切换 功率噪声 ±0.1μw
气体流速 10 ~ 200 mL/min 功率准确度 ±0.1μw
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冀公网安备 13080202000496号